格兰达自主研发设备亮相17届高交会 2015-11-21
格兰达自主研发设备亮相17届高交会
IC芯片检测机和全自动光检机获行业首肯
 
本报讯  11月16日至21日，第十七届中国国际高新技术成果交易会在深圳会展中心隆重举行，我公司自主研发生产的IC芯片分选检测机及GIS126全自动三次光学检测机分别在高交会 1号馆及5号馆精彩亮相，吸引了不少参观者及专业人士驻足观看。

本届高交会有展区、会议及论坛、活动、高新技术人才与智力交流会、不落幕的交易会等五大部分内容，以“创新创业  跨界融合”为主题，主要展现中国自主创新的最新成果。格兰达的IC芯片分选检测机是一款高端测试设备，有极大的市场潜力和需求市场；GIS126全自动三次光学检测机采用高倍视觉系统，对相关产品的表面缺陷可实现全自动的视觉光学检测，技术达到了行业较高水平。我公司参展的两台设备获得行业青睐，使格兰达品牌在半导体行业得以进一步推广。 （王敏）  
 
 

返回上一级