格兰达自主创新成果亮相SEMICON2016 10/31/2016
格兰达自主创新成果亮相SEMICON2016
 
本报讯 3月15-17日,第二十六届国际半导体展SEMICON China 2016在上海新国际博览中心举行。展会由中国电子商会(CECC)主办,我公司的GIS126全自动三次光学检测机及GIT121 IC芯片测试机作为参展产品再次亮相此次国际级盛会,并赢得客户的关注和好评。
展会现场,公司技术人员认真地为每一位客人答疑解惑,利用机器现场演示,与客商一起深入的探讨GIS126全自动三次光学检测机与GIT121 IC芯片测试机技术,场面有序而热烈。公司此次展会旨在拓展视野、开启思路、交流合作,进一步提升公司品牌知名度和影响力,同时也进一步了解同行先进企业的产品及特点,以便更好的完善自身产品结构,发挥更好的优势。通过展会,我公司不仅加强了与老客户的沟通联络,更借由这一行业盛会寻找及开发更多有合作意向的潜在客户,收获颇丰。
(陈红红)
图为格兰达上海SEMICON2016展台一角                                      供图/陈红红
 

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