格兰达自主创新成果亮相SEMICON2016 2016-10-31
格兰达自主创新成果亮相SEMICON2016
 
本报讯 3月15-17日，第二十六届国际半导体展SEMICON China 2016在上海新国际博览中心举行。展会由中国电子商会（CECC）主办，我公司的GIS126全自动三次光学检测机及GIT121 IC芯片测试机作为参展产品再次亮相此次国际级盛会，并赢得客户的关注和好评。
展会现场，公司技术人员认真地为每一位客人答疑解惑，利用机器现场演示，与客商一起深入的探讨GIS126全自动三次光学检测机与GIT121 IC芯片测试机技术，场面有序而热烈。公司此次展会旨在拓展视野、开启思路、交流合作，进一步提升公司品牌知名度和影响力，同时也进一步了解同行先进企业的产品及特点，以便更好的完善自身产品结构，发挥更好的优势。通过展会,我公司不仅加强了与老客户的沟通联络，更借由这一行业盛会寻找及开发更多有合作意向的潜在客户，收获颇丰。 （陈红红）
图为格兰达上海SEMICON2016展台一角                                      供图/陈红红
 

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