公司参展IC China 2013荣获优秀参展产品奖 2013-11-13
公司参展IC China 2013荣获优秀参展产品奖

 
    本报讯 11月13日至15日，第十一届中国国际半导体博览会暨第八十二届中国电子展暨高峰论坛于上海新国际博览中心隆重开幕。我公司携最新自主研发的新产品——GIS129卷带自动光学检测机和GIS130多功能逻辑电路测试分选机参展，备受业界关注。
    本届展会参展企业超过1,300家，展览面积约60,000平方米，吸引了中外知名半导体企业参展。在格兰达展位现场，设备不间断地模拟生产演示吸引了众多观众。其中GIS130多功能逻辑电路测试分选机因技术领先、做工精细，深受市场高度赞许，展会评审团也专程来到我展位对GIS130多功能逻辑电路测试分选机进行评审，一致通过评审，授予IC China 2013“优秀参展产品奖”。（包小欢）



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