格兰达参展SEMICON China 2014 2014-03-21
格兰达参展SEMICON China 2014
 
自主创新高端设备亮出新技术备受关注



 
    本报讯 3月18至20日，第26届国际半导体展SEMICON China 2014在上海新国际博览中心举行，此次我公司展示的高端设备GIS129卷带自动光学检测机和G I S 1 3 0多功能测试分选机展现了我公司的创新技术，备受业界关注。
    此次参展的GI S 1 2 9是一款专门针对编带热封后对其缺陷进行全自动光学检测的高端自动化设备，而GIS130多功能测试分选机，是格兰达与美国全球最大的I C测试设备供应商合作开发的一款高端测试设备。其中，GIS130多功能测试分选机为集成电路芯片提供了一个高速、高稳定性的测试平台，解决了集成电路芯片在测试过程中对中、高温环境的模拟，满足了用户根据测试的结果对集成电路芯片进行按类分选的需求，它目前正处于小批量试产向量产的准备阶段，稳定的性能及高性价比使客户对我们的产品给予了高度评价，在市场方面有着极大的潜力和客户需求，并具备替代价格高昂的国外同类产品的市场竞争力。这两款设备均有着广阔的产业化前景。 （陈晓）

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