格兰达自主创新设备亮相上海SEMICON 2015-03-17
格兰达自主创新设备亮相上海SEMICON
 
    本报讯 3 月17 日至19 日， 第二十五届国际半导体展“SEMICONChina 2015”在上海新国际博览中心W4 馆举行，我公司最新研发产品参加了展会并获好评。

图为格兰达自主设备产品经理刘飞（右二）向参展外商介绍产品
 
    此次是我公司连续第八次参展SEMICON，参展的两台设备获得行业首肯，格兰达品牌在半导体行业的地位日益彰显。我公司参展的有GIS126 全自动三次光学检测机和GIT120 IC 芯片测试机，这两台设备颇受行业人士青睐，前来参观交流的人员络绎不绝。GIS126 是我司自主创新设备产品，采用高倍视觉系统进行缺陷检测，UPH 范围在20K-120K， 合格率高达99.95%。其对晶片位置、金线焊接、卷带产品的表面缺陷可实现全自动的视觉光学检测。GIT120 IC 芯片测试机是格兰达与美国全球最大的IC 测试设备供应商合作开发的一款高端测试设备，它不仅满足了用户根据测试的结果对芯片进行按类分选的需求， 还能兼容QFP、QFN、BGA、SIP 等多种高技术芯片，具有高速度、高稳定等特点。GIT120 具有极大的市场潜力和客户需求，并具备替代价格高昂的国外同类产品的市场竞争力。

    展会期间，中国半导体行业协会副理事长徐小田先生一行人员来我公司展台进行指导，并祝愿格兰达自主创新设备再创辉煌。 （陈晓）


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